Верификация лазерных испытаний ИС на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц с использованием импульсной гамма-установки

Автор: Васильев Алексей Леонидович, Печенкин Александр Александрович, Чумаков Александр Иннокентьевич, Яненко Андрей Викторович, Артамонов Алексей Сергеевич

Журнал: Спецтехника и связь @st-s

Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.

Бесплатный доступ

Представлена методика калибровки лазерных имитационных испытаний микросхем по локальным одиночным ионизационным эффектам с использованием малогабаритной импульсной гаммы-установки. Проведена апробация методики, и показана возможность повышения точности оценок эквивалентных значений линейных потерь энергии (ЛПЭ) для микросхем, выполненных по различным технологиям

Короткий адрес: https://sciup.org/14967047

IDR: 14967047

Список литературы Верификация лазерных испытаний ИС на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц с использованием импульсной гамма-установки

  • Messenger G.C., Ash M.S. Single Event Phenomena. -N.Y.: Chapman&Hall, 1997. -368 p.
  • The Radiation Design Handbook. European Space Agency. ESTEC, Noordwijk, the Nederland, 1993. -444 p.
  • Чумаков А.И. Действие космической радиации на ИС. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
  • Allen G. R. Compendium of Test Results of Single Event Effects Conducted by the Jet Propulsion Laboratory./2008 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record.
  • Pouget V. Fundamentals of laser SEE testing and recent trends/RALFDAY 2009, EADS France, Suresnes, 11th September.
  • Jones R. et al. Comparison between SRAM SEE cross-section from ion beam testing with those obtained using a new picosecond pulsed laser facility./IEEE Trans. on Nucl. Sci., 2000. -V. NS-47. -№ 4. -PР. 539 -544.
  • Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Яненко А.В. Методика оценки параметров чувствительности ИС к тиристорному эффекту при воздействии отдельных ядерных частиц./Микроэлектроника, 2008. -Т. 37. -№ 1. -С. 45 -51.
Статья научная