Оптический интерференционный метод диагностики параметров тонких пленок как основа бесконтактной термометрии

Список литературы Оптический интерференционный метод диагностики параметров тонких пленок как основа бесконтактной термометрии

• Магунов А.Н. Лазерная термометрия твердых тел. М.: Физматлит, 2001. 224 с.
• Coppola G., Ferrano P., Iodice M., De Nicola S. Method of measuring the refractive index and the thickness of transparent plates with a lateral-shear, wavelength-scanning interferometer//Applied Optics. 2003. Vol. 42. № 19. 1 July. Р. 3882-3887.
• Ibid.
• Ibid.
• Хоружий Д.Н., Яцышен В.В. Применение метода характеристических матриц при расчете оптических свойств диэлектрика с учетом температурных эффектов//Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2005. Т. 8. № 1. С. 22-25.
• Coppola G., Ferrano P., Iodice M., De Nicola S. Op. cit.