Многооборотный спиральный времяпролетный масс-анализатор на основе цилиндрических секторных полей и периодических линз
Автор: Явор Михаил Игоревич, Веренчиков А.Н., Гулуев Р.Г.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Математические методы и моделирование в приборостроении
Статья в выпуске: 3 т.28, 2018 года.
Бесплатный доступ
В работе на основе численных расчетов исследована возможность использования в многооборотных секторных времяпролетных масс-анализаторах со спиральным движением ионов массива периодических линз, аналогичного применяемому в зеркальных многоотражательных времяпролетных анализаторах. Показано, что такое решение не ухудшает разрешающую способность масс-анализа, существенно упрощая конструкцию анализатора за счет использования цилиндрических секторных полей и добавляя возможность удвоения длины пути пролета с помощью разворота ионов в направлении спирального дрейфа.
Времяпролетный масс-анализатор, периодические линзы, цилиндрический дефлектор, разрешающая способность, фокусировка времени пролета
Короткий адрес: https://sciup.org/142214876
IDR: 142214876 | DOI: 10.18358/np-28-3-i8489
Список литературы Многооборотный спиральный времяпролетный масс-анализатор на основе цилиндрических секторных полей и периодических линз
- Явор М.И., Веренчиков А.Н. Сравнительный анализ многопроходных времяпролетных масс-анализаторов на основе зеркал и секторных полей//Научное приборостроение. 2006. Т. 16, № 3. С. 21-29. URL: http://213.170.69.26/mag/2006/abst3.php#abst2.
- Toyoda M., Okumura D., Ishihara M., Katakuse I. Multi-turn time-of-flight mass spectrometers with electrostatic sectors//J. Mass Spectrom. 2003. Vol. 38, no. 11. P. 1125-1142.
- Satoh T., Tsuno H., Iwanaga M., Kammei Y. The design and characteristic features of a new time-of-flight mass spectrometer with a spiral ion trajectory//J. Am. Soc. Mass Spectrom. 2005. Vol. 16. P. 1969-1975.
- Yavor M., Verentchikov A., Hasin Ju., Kozlov B., Gavrik M., Trufanov A. Planar multi-reflecting time-of-flight mass analyzer with a jig-saw ion path//Physics Procedia. 2008. Vol. 1, no. 1. P. 391-400.
- Verenchikov A., Yavor M. Mass analyzer having extended flight path. Patent PCT WO2018033494, 2018.
- Yavor M. Optics of charged particle analyzers. Acad. Press, Amsterdam, 2009.
- Wollnik H., Harmann B., Berz M. Principles of GIOS and COSY//AIP Conf. Proc. 1988. Vol. 177. P. 74-85.
- Manura D.J., Dahl D.A. SIMIONTM 8.0 User Manual. Sci. Instrument Services, Inc., Idaho Nat. Lab., 2006.
- Verenchikov A., Kirillov S., Khasin Yu., Makarov V., Yavor M., Artaev V. Multiplexing in multi-reflecting TOF MS//J. Applied Solution Chemistry and Modeling. 2017. Vol. 6. P. 1-22.
