Методы моделирования и программное обеспечение для разработки ионно-оптических систем источников ионов масс-спектрометров
Автор: Бердников А.С., Галль Л.Н., Саченко В.Д., Хасин Ю.И., Сапрыгин А.В., Калашников В.А., Залесов Ю.Н., Малеев А.Б.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Указатели тома
Статья в выпуске: 4 т.13, 2003 года.
Бесплатный доступ
В работе рассматриваются аппаратные и программные методы моделирования источников ионов масс-спектрометров. Приведен общий обзор как экспериментальных, так и программных методов моделирования электромагнитных статических полей и пучков заряженных частиц. Сделан обзор характерных особенностей, достоинств и недостатков основных коммерческих программ, предназначенных для расчета электронно- и ионно-оптических систем. Подробно рассмотрено применение программы SIMION-3D (версия 7.0) для моделирования ионно-оптических приборов, и в частности для моделирования источников ионов масс-спектрометров. Описаны специализированные программные средства, служащие интерфейсными пре- и постпроцессорами для программы SIMION и позволяющие легко задавать входные начальные условия и просматривать результаты траекторного анализа, производимого программой SIMION.
Короткий адрес: https://sciup.org/14264311
IDR: 14264311
Список литературы Методы моделирования и программное обеспечение для разработки ионно-оптических систем источников ионов масс-спектрометров
- Кельман В.М., Явор С.Я. Электронная оптика. Л.: Наука, 1968. 488 с.
- Glaser W. Grundlagen der Elektronenoptik. Wien, Springer-Verlag, 1952. 700 c.
- Кельман В.М., Уткин К.Г., Логинова Л.Н. Упрощенная конструкция установки с резиновой мембраной для определения траекторий заряженных частиц в присутствии объемного заряда//ЖТФ. 1957. Т. 27, № 7. С. 2092-2096.
- Левин Г.Э., Прудковский Г.П. Траектографы -автоматы, производящие расчет и построение траекторий заряженных частиц (Обзор)//ПТЭ. 1962. №1. C. 62-74.
- Кирштейн П.Т., Карно Г.С., Уотерс У.Е. Формирование электронных пучков. (Пер. с англ.). М.: Мир, 1970. 506 с.
- Силадьи М. Электронная и ионная оптика. (Пер. с англ.). М.: Мир, 1990. 639 с.
- Галль Л.Н., Шерешевский А.М. Использование траектографа Т-10 для моделирования оптических систем масс-спектрометров//Сб. "Физическая электроника". Госатомиздат, 1962. С. 8-13.
- Хокс П., Каспер Э. Основы электронной оптики. М.: Мир, 1993. Т. 1, 551 с.; Т. 2, 477 с.
- Физика и технология источников ионов/Под ред. Я. Брауна. (Пер. с англ.). М.: Мир, 1998. 496 с.
- Хокни Р., Иствуд Дж. Численное моделирование методом частиц. М.: Мир, 1987. 637 с.
- Asi A. Boundary Element Method (BEM) for Charged Particle Optics//Proc. SPIE (Proceedings of 46th SPIE Annual Meeting, San Diego, California, 2001). Dec. 2001. V. 4510. P. 138-147.
- Asi A. Superior Solutions for Electromagnetic Field Designs: The Boundary Element Method www.integratedsoft.com\papers\techdocs\tech_3g.pdf>//Integrated Engineering Software. Winnipeg, MB, Canada, September 1995.
- Asi A. Ion source modeling with LORENTZ-2D//Review of Scientific Instruments. February 2002. V. 73, N 2. P. 780-782.
- Галль Л.Н., Лохов К.И., Хасин Ю.И. Источник ионов для масс-спектрометрического изотопного анализа газов. I. Сравнительный анализ экспериментальных характеристик источников ионов масс-спектрометров для изотопного анализа газов//Научное приборостроение. 2001. Т. 11, № 4. С. 16-20.
- Хасин Ю.И., Бердников А.С., Галль Л.Н. Источник ионов для масс-спектрометрического изотопного анализа газов. II. Теоретическое сравнение источников ионов для изотопного анализа методом математического моделирования//Научное приборостроение. 2002. Т. 12, № 1. С. 30-34.
- Бердников А.С., Галль Л.Н., Залесов Ю.Н., Калашников В.А., Леднев В.А., Малеев А.Б., Хасин Ю.И. Источник ионов для масс-спектрометрического изотопного анализа газов. III. Разработка источника ионов специализированного масс-спектрометра МТИ350Г для изотопного анализа гексафторида урана//Научное приборостроение. 2002. Т. 12, № 1. С. 35-38.
