Методологический подход к анализу структурной организации тонких ЛБ-пленок методами высокоразрешающей микроскопии

Предложены и рассмотрены эвристические модели формирования структур в тонких ленгмюровских пленках толщиной 1-3 слоя, основанные на результатах экспериментальных исследований пленок методом атомно-силовой микроскопии. Показано, что элементом базовой структуры пленок является домен. Обсуждена гипотеза разброса размеров домена, согласующаяся с моделью Иеха. На основе анализа структурной однородности и целостности пленки предложена модель роста пленки.