Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов

Автор: Колючкин Василий Васильевич, Злоказов Евгений Юрьевич, Одиноков Сергей Борисович, Талалаев Владимир Евгеньевич, Цыганов Иван Константинович

Журнал: Компьютерная оптика @computer-optics

Рубрика: Дифракционная оптика, оптические технологии

Статья в выпуске: 4 т.39, 2015 года.

Бесплатный доступ

Защитные голограммы применяются в качестве элементов, подтверждающих подлинность документов и различной продукции. Качество защитных голограмм в значительной степени зависит от глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов. Авторами статьи предлагается метод контроля качества защитных голограмм, основанный на непрямых измерениях параметров микрорельефа. В статье представлены результаты теоретических исследований предложенного метода.

Голография, дифракционные решётки, теория дифракции, голографические оптические элементы, дифракционные оптические элементы

Короткий адрес: https://sciup.org/14059391

IDR: 14059391   |   DOI: 10.18287/0134-2452-2015-39-4-515-520

Список литературы Метод когерентного контроля глубины поверхностного микрорельефа голограммных и дифракционных оптических элементов

  • Kolyuchkin, V.V. Correlation method for quality control of master matrix used for embossing security holograms/V.V. Kolyuchkin, A.Yu. Zherdev, E.Yu. Zlokazov, D.S. Lushnikov, S.B. Odinokov, A.V. Smirnov//Holography: Advances and Modern Trends III, Proceedings of SPIE. -2013. -Vol. 8776 -P. 87760A.
  • Бессемельцев, В.П. Контроль качества отражающих голограмм методами конфокальной микроскопии/В.П. Бессемельцев//XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. -2014. -С. 50-53.
  • Беляцкий, М.А. Устройство и алгоритм проверки подлинности защитных голограмм/М.А. Беляцкий, Ю.Д. Карякин, Р.В. Телятников, М.Л. Чиканова, И.П. Шумский//XI международная конференция Голоэкспо-2014: сборник научных трудов. -2014. -С. 64-67.
  • Хорохоров, А.М. Исследование влияния параметров фазовых дифракционных решёток на распределение интенсивности дифрагированного света при формировании цветокодированных изображений/А.М. Хорохоров, А.М. Клищук, И.К. Цыганов, С.Б. Одиноков, А.Ф. Ширанков//Вестник МГТУ им. Н.Э. Баумана. Сер. Приборостроение. -2005. -№ 4. -С. 13-26.
  • Борн, М. Основы оптики/М. Борн, Э. Вольф; под ред. Г.П. Мотулевич. -Изд. 2-е. -М.: Наука, 1973. -С. 341-362.
Еще
Статья научная