Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии в ИАнП РАН

Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии в ИАнП РАН

Автор: Голубок А.О.

Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie

Рубрика: 25 лет институту аналитического приборостроения РАН

Статья в выпуске: 4 т.12, 2002 года.

Бесплатный доступ

В статье кратко изложена история развития исследований и разработок в области сканирующей зондовой микроскопии в Институте аналитического приборостроения РАН. Охарактеризовано положение на сегодняшний день в этой области. Прослежены различные направления и тенденции развития зондовой микроскопии.

Короткий адрес: https://sciup.org/14264259

IDR: 14264259

Список литературы Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии и спектроскопии в ИАнП РАН

  • 1. Young R. // Phys. Today. 1971. V. 24. P. 42; Young R., Ward J., Scire F. // Rev. Sci. Instr., 1972. V. B43, N 7. P. 999.
  • Binnig G., Rohrer H.//Rev. Mod. Phys. 1987. V. 59, N 3. P. 615.
  • Виноградова С.А., Голубок А.О., Давыдов Д.Н.//Научное приборостроение, вып. "Автоматизация научных исследований". Л.: Наука, 1988. С. 3-11.
  • Голубок А.О., Давыдов Д.Н., Тимофеев В.А., Типисев С.Я.//Научное приборостроение, вып. "Электронно-ионная оптика". Л.: Наука, 1989. С. 72-76.
  • Голубок А.О., Тарасов Н.А., Типисев С.Я., Давыдов Д.Н., Фельштын М.Л., Масалов С.А., Нахабцев Д.В., Тимофеев В.А., Розанов В.В., Певзнер А.С., Беленков В.Д., Анненкова Н.В. Отчет о научно-исследовательской работе/НТО АН СССР. 150-НИР-И; № ГР 01860134855; Инв. № 02880076244. Л., 1988.
  • Tipissev S.Ya. and Golubok A.O.//Tribology International. 1996. V. 29, N 5. P. 373-376.
  • Гoлубoк А.О., Сапожников И.Д., Соловьев А.М., Типисев С.Я.//Микроэлектроника. 1997. Т. 26, вып. 4. С. 291-296.
  • Голубок А.О. Автореф. дис. … д-ра физ.-мат. наук. 1999. 60 с.
  • Войтенко С.М., Куняев В.В., Сапожников И.Д., Голубок А.О.//Материалы Всероссийского совещания "Зондовая микроскопия-98" (Нижний Новгород, 2-5 марта, 1998). С. 192-195.
  • Голубок А.О., Давыдов Д.Н., Нахабцев Д.В.//Научное приборостроение, вып. "Электронно-ионная оптика". Л.: Наука, 1989. С. 77-84.
  • Булаенко Е.В., Курочкин Д.В., Манойлов В.В., Сапожников И.Д., Голубок А.О.//Труды 1-й Международной конференции "Цифровая обработка сигналов и ее применения" (Москва, 30 июня-3 июля 1998). С. IV222-IV225.
  • Голубок А.О., Тимофеев В.А., Аристов В.Ю., Гелахова С.Г.//Научное приборостpoение. 1992. Т. 2, № 1. С. 74-84.
  • Голубок А.О., Тарасов Н.А.//Письма в ЖТФ. 1990. Т. 16, вып. 11. С. 41-45.
  • Golubok A.O., Masalov S.A. and Tarasov N.A.//Ultramicroscopy. 1992. V. 42-44. P. 1574-1579.
  • Golubok A.O. and Timofeev V.A.//Ultramicroscopy. 1992. V. 42-44. P. 1558-1563.
  • Голубок А.О., Типисев С.Я., Фельштын М.Л., Масалов С.А., Сапожников И.Д., Соловьев А.М., Розанов В.В., Войтенко С.М., Курочкин Д.В., Куняев В.В. Отчет о научно-исследовательской работе/ИАнП РАН. № ГР 01.9.70 000023; Инв. № 029.80 000109. СПб., 1997.
  • Guryanov G.M., Cirlin G.E., Petrov V.N., Polyakov N.K., Golubok A.O., Tipissev S.Ya., Musikhina E.P., Gubanov V.B., Samsonenko Yu.B., Ledentsov N.N.//Surface Science. 1995. V. 331-333. P. 414-418.
  • Cirlin G.E., Guryanov G.M., Golubok A.O., Tipissev S.Ya., Ledentsov N.N., Kop'ev P.S., Grundmann M., Bimberg D.//Appl. Phys. Lett. 1995. V. 67. P. 97-99.
  • Guryanov G.M., Cirlin G.E., Petrov V.N., Polyakov N.K., Golubok A.O., Tipisev S.Ya., Gubanov V.B., Samsonenko Yu.B., Ledentsov N.N., Shchukin V.A., Grundmann M., Bimberg D., Alferov Zh.I.//Surface Science. 1996. V. 352-354. P. 651-655.
  • Guryanov G.M., Cirlin G.E., Golubok A.O., Tipisev S.Ya., Ledentsov N.N., Shchukin V.A., Grundmann M., Bimberg D., Alferov Zh.I.//Surface Science. 1996. V. 352-354. P. 646-650.
  • Цырлин Г.Э., Петрoв В.Н., Дубровский В.Г., Поляков Н.К., Типисев С.Я., Гoлубoк А.О., Леденцов Н.Н.//ФТП. 1997. Т. 31, вып. 8. С. 902-907.
  • Cirlin G.E., Petrov V.N., Golubok A.O., Tipissev S.Ya., Dubrovskii V.G., Guryanov G.M., Ledentsov N.N., Bimberg D.//Surface Science. 1997. V. 377-379. P. 895-898.
  • Цырлин Г.Э., Петров В.Н., Масалов С.А., Голубок А.О., Леденцов Н.Н.//Письма в ЖТФ. 1997. T. 23, вып. 22. C. 80-84.
  • Цырлин Г.Э., Петров В.Н., Дубровский В.Г., Масалов С.А., Голубок А.О., Комяк Н.И., Леденцов Н.Н., Алфёров Ж.И., Бимберг Д.//Письма в ЖТФ. 1998. T. 24, вып. 8. C. 10-15.
  • Иванов-Омский В.И., Голубок А.О., Ястребов С.Г., Масалов С.А., Розанов В.В.//Письма в ЖТФ. 1998. T. 24, № 20. C. 28-34.
  • Виноградова С.А., Гoлубoк А.О., Коломыткин О.В., Типисев С.Я.//Письма в ЖТФ. 1991. T. 17, вып. 3. C. 85-88
  • Виноградова С.А., Гoлубoк А.О., Коломыткин О.В., Типисев С.Я.//Письма в ЖЭТФ. 1990. T. 51, вып. 10. C. 513-515.
  • Kolomytkin O.V., Golubok A.O., Davydov D.N., Timofeev V.A., Vinogradova S.A., Tipisev S.Ya.//Biophysical Journal. 1991. V. 59, N 4. P. 889-893.
  • Golubok A.O., Vinogradova S.A., Tipissev S.Ya., Borisov A.Y., Taisova A.S., Kolomytkin O.V.//Ultramicroscopy. 1992. V. 42-44. P. 1228-1235
  • Simmons J.G.//J. Appl. Phys. 1963. V. 34. P. 2581.
  • Amaratunga G.A.J., Silva S.R.P.//Appl. Phys. Lett. 1996. V. 68, N 18. P. 2529.
  • Гoлубoк А.О., Давыдов Д.Н., Мусихина Е.П., Кайданов В.И., Рыков С.А.//Письма в ЖТФ. 1991. T. 17, вып. 2. C. 36-40.
  • Davydov D.N., Golubok A.O. and Rykov S.A.//Ultramicroscopy. 1992. V. 42-44. P. 878-883.
  • Голубок А.О., Петров М.П., Красинькова М.В., Берзкин В.И., Давыдов Д.Н., Типисев С.Я.//Письма в ЖТФ. 1988. Т.14, вып. 10. С. 942-946.
  • Кайданов В.И., Рыков С.А., Рыкова М.А., Сюрис О.В.//ФТП. 1990. T. 24, № 1. C. 144-151.
  • Голубок А.О., Давыдов Д.Н., Типисев С.Я.//Письма в ЖТФ. 1988. T. 14, № 24. C. 2233-2236.
  • Голубок А.О., Давыдов Д.Н., Кондратьев В.А., Типисев С.Я.//Тезисы докладов ХХV Всесоюзного совещания по физике низких температур (Ленинград, 25-27 октября, 1988). С. 149-150.
  • Golubok A.O., Davydov D.N., Tipissev S.Ya.//Fourth International Conference on Scanning Tunneling Microscopy/Spectroscopy (Ibaraki, Japan, July 9-14, 1989): Final Program and Abstract Booklet. P. 74.
  • Лихарев К.К., Аверин Д.В.//ЖЭТФ. 1986. T. 90. C. 733.
  • Lyding J.W., Shen T.C., Hubacek J.S., Tucker J.R. and Abeln G.C.//Appl. Phys. Lett. 1994. V. 64. P. 2010.
  • Соколов Д.В.//Научное приборостроение. 2001. T. 11, № 1. C. 15-21.
  • Соколов Д.В.//ЖТФ. 2002. T. 72, № 1. C. 60-65.
  • Соколов Д.В.//Микросистемная техника. 2001. T. 5. C. 25-29.
  • Соколов Д.В. Дис. … канд. физ.-мат. наук. СПб., 2001. 112 с.
  • Tarasov N.A.//Ultramicroscopy. 1992. V. 42-44. P. 223-230.
  • Сумецкий М.Ю., Фельштын М.Л.//Письма в ЖЭТФ. 1991. T. 53, вып. 1. C. 24-27.
  • Горбенко О.М., Масалов С.А., Фридман П. А., Цырлин Г.Э., Голубок А.О.//Научное приборостроение. 2000. T. 10, № 1. C. 70-76.
  • Горбенко О. М. Дис. … канд. физ.-мат. наук. СПб., 2000. 151 с.
Еще
Статья научная
SciUp 2024 © 2024 ©