Комплекс методических, аппаратных и программных средств для автоматизированных исследований параметров полупроводниковых СВЧ ИС в условиях испытаний на радиационную стойкость

Автор: Елесин Вадим Владимирович, Никифоров Александр Юрьевич, Телец Виталий Арсентьевич, Чуков Георгий Викторович

Журнал: Спецтехника и связь @st-s

Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.

Бесплатный доступ

Представлен комплекс методических, аппаратных и программных средств для автоматизированных исследований параметров полупроводниковых СВЧ ИС в условиях испытаний на радиационную стойкость.

Свч-электроника, измерительный комплекс, радиационные исследования

Короткий адрес: https://sciup.org/14967051

IDR: 14967051

Список литературы Комплекс методических, аппаратных и программных средств для автоматизированных исследований параметров полупроводниковых СВЧ ИС в условиях испытаний на радиационную стойкость

  • Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
  • Елесин В.В., Назарова Г.Н., Чуков Г.В, Кабальнов Ю.А., Титаренко А.А. Исследование СВЧ характеристик отечественной КНИ КМОП технологии с нормами 0,35 мкм./Электроника, микро-и наноэлектроника. Сб. науч. тр. -М: НИЯУ МИФИ, 2011. -С. 90 -101.
  • Елесин В.В., Назарова Г.Н., Чуков Г.В. Маршрут исследований ИС многоразрядных фазовращателей и аттенюаторов для АФАР СВЧ диапазона./Известия вузов. Электроника, 2011. -№ 4 (90). -С. 78 -85.
  • Никифоров А.Ю., Скоробогатов П.К. Учет влияния температуры на адекватность лазерного имитационного моделирования объемных ионизационных эффектов в ПП и ИС./Микроэлектроника, 2008. -Том 37. -№ 1. -С. 18 -27.
  • Чуков Г.В., Назарова Г.Н., Елесин В.В. Исследование СВЧ характеристик отечественного металлостеклянного корпуса 401.14-5 производства ОКБ «МАРС»./Научная сессия МИФИ-2009: Аннотации докладов./В 3 т. -Т.1. -M.: МИФИ, 2009. -C. 181
  • Техническое описание на смеситель HMC798LC4./http://www.hittite.com/products/view.html/view/HMC798LC4.
  • Елесин В.В., Чуков Г.В. Сравнительный анализ методик измерения S-параметров некоаксиальных СВЧ устройств./Научная сессия МИФИ-2008: Сб. научных трудов./В 15 т. -М.:МИФИ, 2008.
  • Методические рекомендации по измерению коэффициента шума./http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5952-8255E.pdf>.
Еще
Статья научная