Эллипсометр, сочетающий в себе «нулевой» и фотометрический подходы

Автор: Бобро В.В., Дронь О.С., Комяк Н.И., Семененко А.И.

Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie

Рубрика: Оригинальные статьи

Статья в выпуске: 2 т.10, 2000 года.

Бесплатный доступ

Рассмотрены метрологические преимущества и особенности метрологической аттестации эллипсометра, сочетающего в себе «нулевой» и фотометрический подходы.

Короткий адрес: https://sciup.org/14264127

IDR: 14264127

Список литературы Эллипсометр, сочетающий в себе «нулевой» и фотометрический подходы

  • Аззам Р., Башара Н. Эллипсометрия и поляризованный свет. М.: Мир, 1981. 583 с.
  • Ржанов А.В., Свиташев К.К., Семененко А.И. и др. Основы эллипсометрии. Новосибирск: Наука, 1979. 422 с.
  • Семененко А.И.//Оптика и спектроскопия. 1978. Т. 45, № 1. С. 199-201.
  • Семененко А.И., Бобро В.В.//Автометрия. 1997. № 1. С. 43-49.
  • Semenenko A.I., Bobro V.V., Mardezhov A.S., Semenenko E.M.//Proc. SPIE. 1998. V. 3485. P. 336-342.
  • Бобро В.В., Семененко А.И.//Научное приборостроение. 2000. Т. 10, № 1. С. 65-69.
Статья научная