Автоматизация испытаний интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц с использованием аппаратно-программного комплекса National Instruments и технологий.NET
Автор: Тарараксин Александр Сергеевич, Савченков Дмитрий Владимирович, Печенкин Александр Александрович
Журнал: Спецтехника и связь @st-s
Статья в выпуске: 4-5, 2011 года.
Бесплатный доступ
В статье рассматривается автоматизация испытаний интегральных схем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц. Рассмотрена аппаратура, составляющая испытательные комплексы и архитектура управляющего их работой распределенного приложения, работающего на платформе.NET. Реализована интеграция объектов.NET в проекты, написанные на LabView, для управления контрольно-измерительными средствами National Instruments.
Автоматизация радиационных испытаний, отдельные ядерные частицы, распределенное приложение
Короткий адрес: https://sciup.org/14967046
IDR: 14967046
Список литературы Автоматизация испытаний интегральных микросхем на стойкость к воздействию отдельных ядерных частиц с использованием аппаратно-программного комплекса National Instruments и технологий.NET
- Чумаков А.И. Действие космической радиации на интегральные схемы. -М.: Радио и связь, 2004. -320 с.
- Рихтер Дж. CLR via C#. Программирование на платформе Microsoft.NET Framework 2.0 на языке C#. Мастер-класс. -М.: Русская Редакция, 2007. -656 с.
- Морган Сара, Райан Билл, Хорн Шеннон, Бломсма Марк. Разработка распределенных приложений на платформе Microsoft.Net Framework: Учебный курс Microsoft. -М.: Русская Редакция, 2008. -608 с.
- Трэвис Дж., Кринг Дж. LabView для всех. -М.: ДМК Пресс, 2008. -880 с.
