Архитектура отказоустойчивого запоминающего устройства для бортовых систем управления летательными аппаратами
Автор: Евдокимов А.П., Назаров А.А., Рябцев В.Г.
Журнал: Физика волновых процессов и радиотехнические системы @journal-pwp
Статья в выпуске: 2 т.20, 2017 года.
Бесплатный доступ
В статье решается задача повышения коэффициента технической готовности модулей памяти, значение которого возрастает при уменьшении времени восстановления системы управления при отказе входящих в нее устройств. Предлагается структура модулей памяти со встроенными средствами самотестирования и восстановления работоспособности, что позволит выполнить автоматическую замену разрядов данных основного массива запоминающих ячеек, в которых произошли отказы, на данные, поступающие с выходов запасного массива запоминающих ячеек. Автоматическую реконфигурацию модуля памяти при обнаружении отказа обеспечивают предлагаемые аппаратные и программные средства.
Запоминающее устройство, самотестирование, встроенные средства восстановления работоспособности
Короткий адрес: https://sciup.org/140256000
IDR: 140256000
Список литературы Архитектура отказоустойчивого запоминающего устройства для бортовых систем управления летательными аппаратами
- Мишанов Р.О., Пиганов М.Н. Исследовательские испытания интегральных микросхем//Известия Самарского научного центра РАН. 2017. Т. 18. № 4(7). С. 1406-1409.
- Анализ причин низкой надежности и установка диагностического неразрушающегося контроля интегральных стабилизаторов/Р.О. Мишанов //Сборник научных трудов SWorld. 2015. Т. 3. Вып. 1(38). С. 42-48.
- Способ диагностического неразрушающего контроля микросхем КМОП-типа/М.Н. Пиганов //Сборник научных трудов SWorld. 2014. Т. 5. Вып. 3(36). С. 65-72.
- Piganov M.N., Mishanov R.O. Technology of diagnostic for non-destructive control of the bipolar integrated circuits//2nd International scientific symposium «Sense. Enable. SPITSE. 2015»: Symposium Proceedings. St. Petersburg. 2015. P. 38-41.
- Apparatus diagnostic for non-destructive control chip CMOS-type/S.V. Tyulevin //European science and technology: materials of the VIII international research and practice conference. Germany, Munich, 2014. P. 398-401.
- Piganov M., Tyulevin S., Erantseva E. Individual prognosis of quality indicators of space equipment elements//The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceeding XIII International Conference. Ukraine, Lviv. 2015. P. 367-371.
- Mishanov R., Piganov M. Individual forecasting of quality characteristics by an extrapolation method for the stabilitrons and the integrates circuits//The Experience of Designing and Application of CAD Systems in Microelectronics (CADSM 2015): Proceedings XIII International Conference. Ukraine, Lviv. 2015. P. 242-244.
- Тюлевин С.В., Пиганов М.Н., Еранцева Е.С. К проблеме прогнозирования показателей качества элементов космической аппаратуры//Надежность и качество сложных систем. 2014. № 1(5). C. 9-17.
- Костин А.А., Пиганов М.Н. Расчет помех в цепях бортовой аппаратуры космических аппаратов, вызванных электростатическими разрядами//Известия Самарского научного центра РАН. 2012. Т. 14. № 4(5). С. 1376-1379.
- Костин А.В., Пиганов М.Н., Бозриков В.С. Экспериментальное исследование, измерение и анализ помех в цепях бортовой аппаратуры космических аппаратов, вызванных электромагнитным полем электростатического разряда//Надежность и качество сложных систем. 2015. № 4(16). С. 46-55.
- Patent USA. Redundancy Analysis for Embedded Memories with Built-In Self Test and Built-In Self Repair. N6067262, Int.Cl.G11C 7/00. May 23, 2000.
- Patent USA. Built-In Spare Row and Column Replacement Analysis System for Embedded Memories. N6304989, Int.Cl.G01R 31/28. Oct.16, 2001.
- Utkina T.Yu., Ryabtsev V.G. Method and mean of computer's memory reliable work monitoring//Proceeding of IEEE East-West Design & Test Symposium 2009 (EWDTS'09). (Moscow, 18-21 Sep. 2009). Kharkiv: Khnure, 2009. P. 505-512.
- Architecture of Built-In Self-Test and Recovery Memory Chips/T.Yu. Utkina //Proceedings of East-West Design & Test Workshop (EWDTW'2012). (Kharkov, Ukraine, 14-17 Sep. 2012). Kharkov: Khnure, 2012. Р. 307-310.
- Almadi М.K., Ryabtsev V.G., Utkina T.Yu. Automatic operability restoration of semiconductor memory's modules during multiple faults//European Journal of Engineering and Technology. 2015. Vol. 3. № 5. Р. 72-79.
- Almadi M.K., Ryabtsev V.G. Features of decision support's program at choice of tests optimized sequence for semiconductors memory diagnosing//Radio Electronics & Informatics. 2008. № 1. P. 84-87.
- Almadi M., Moamar D., Ryabtsev V. New methods and tools for design of tests memory//Proceedings of East-West Design & Test Workshop (EWDTW'10). (Sevastopol, 9-12 Sep. 2011). Kharkiv: Khnure, 2011. Р. 319-325.
- Almadi M.K., Ryabtsev V.G. New infrastructure for memory tests design//Proceedings of the International Workshop Critical Infrastructure Safety and Security (CrISS-DESSERT 2011). (Kirovograd, 11-13 May 2011). P. 434-440.
- Almadi M., Moamar D., Ryabtsev V. Methodology of algorithms synthesis of memory test diagnosing//Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium 2010 (EWDTS'10). (St. Petersburg, 17-20 September 2010). P. 366-370.
- Almadi M.K., Ryabtsev V.G., Kudlaenko V.M. Automation of program's test designing march FD//Management Information System and Devises. 2006. № 136. P. 71-77.
- Ryabtsev V.G., Kudlaenko V.M., Movchan Y.U. Method of estimation diagnostic properties of the test family march//Proceeding of East-West & Test International Workshop (EWDTW'04). (Yalta-Alushta, Criema, 23-26 September 2004). P. 220-224.
Статья научная
