Анализатор параметров проводящих, сверхпроводящих и полупроводниковых структур
Автор: Жарков Иван Павлович, Иващенко А.Н., Сафронов В.В., Солонецкий А.И.
Журнал: Научное приборостроение @nauchnoe-priborostroenie
Рубрика: Поверхность
Статья в выпуске: 4 т.22, 2012 года.
Бесплатный доступ
С целью эффективного выявления малых нелинейностей в микроконтактной и туннельной спектроскопиях, разработан и изготовлен недорогой серийный анализатор параметров проводящих, сверхпроводящих и полупроводниковых структур.
Нелинейности, микроконтактная туннельная спектроскопия, сверхпроводящие структуры, анализатор параметров
Короткий адрес: https://sciup.org/14264822
IDR: 14264822
Статья научная
