Анализ зависимости вторично-эмиссионного тока и рентгеновского излучения от положения луча относительно стыка при электронно-лучевой сварке

Произведен анализ зависимостей вторично-эмиссионного тока и рентгеновского излучения от положения луча относительно стыка свариваемых деталей при электроннолучевой сварке однородных и разнородных материалов. Установлена идентичность этих характеристик. Характеристики имеют экстремальный характер. При сварке однородных материалов минимум зависимостей соответствует точному совпадению положений луча и стыка. При сварке разнородных материалов минимум вторично-эмиссионного тока смещается в сторону материала с меньшим коэффициентом вторичной эмиссии, а минимум рентгеновского излучения в сторону материала с меньшим атомным номером. Идентичность характеристик обусловлена тем, что явления вторичной эмиссии и рентгеновского излучения являются следствием взаимодействия электронного луча с материалом свариваемых деталей. В связи с этим для анализа рассматриваемых зависимостей может быть применен одинаковый математический аппарат, а реализация устройств слежения за стыком может быть осуществлена унифицированными аппаратными и программными средствами.