Нанотехнология и нанометрия. Рубрика в журнале - Труды Московского физико-технического института

Публикации в рубрике (12): Нанотехнология и нанометрия
все рубрики
Анализ методической погрешности измерений геометрических параметров объектов в рэм методом дефокусировки зонда, обусловленной параметрами зонда

Анализ методической погрешности измерений геометрических параметров объектов в рэм методом дефокусировки зонда, обусловленной параметрами зонда

Альзоба Виктор Валерьевич, Кузин Александр Юрьевич, Ларионов Юрий Васильевич, Раков Александр Васильевич, Тодуа Павел Андреевич, Филиппов Михаил Николаевич

Статья научная

Проведена оценка методической погрешности измерений геометрических параметров объектов методом дефокусировки электронного зонда РЭМ, обусловленной зависимостью результата измерений от параметров зонда. Показано, что эта погрешность может быть уменьшена путем выбора оптимальных параметров зонда, при которых реальные условия измерений в наилучшей степени соответствуют требованиям расчетной модели. В результате значение методической погрешности снижается до уровня случайной погрешности измерений (5-10 нм).

Бесплатно

Графеновый фотонный кристалл

Графеновый фотонный кристалл

Колесников Антон Александрович, Лозовик Юрий Ефремович

Статья научная

Рассматривается новый тип фотонного кристалла, состоящий из периодически расположенных слоев графеновых и диэлектрических дисков, погруженных в диэлектрическую среду. Рассчитаны зонная структура и спектр прохождения такого фотонного кристалла. Фотонные кристаллы на основе графена могут быть эффективно использованы в качестве частотных фильтров и волноводов в дальней области ИК-спектра. Благодаря существенному уменьшению поглощения на низких частотах в допированном графене в фотонном кристалле также подавляется затухание и скин-эффект. Обсуждаются преимущества фотонного кристалла на основе графена.

Бесплатно

Исследование влияния различных факторов на эффективность катодолюминесценции с целью создания конкурентоспособного автоэмиссионного источника излучения

Исследование влияния различных факторов на эффективность катодолюминесценции с целью создания конкурентоспособного автоэмиссионного источника излучения

Ехменина Ирина Викторовна, Шешин Евгений Павлович

Статья научная

В данной статье рассмотрены основные факторы, определяющие интенсивность излучения катодолюминофоров и эффективность автоэмиссионной лампы в целом, к ним относятся: условия возбуждения люминофоров электронным пучком, химический состав катодолюминофоров, а также особенности процессов изготовления люминесцентных экранов.

Бесплатно

Исследование диэлектрических свойств тонких пленок оксида алюминия, выращенных методом молекулярного наслаивания

Исследование диэлектрических свойств тонких пленок оксида алюминия, выращенных методом молекулярного наслаивания

Борисова Татьяна Михайловна, Кастро Арата Рене Алехандро

Статья научная

Впервые экспериментально исследованы диэлектрические свойства МДП-структур на основе слоев оксида алюминия, полученных методом молекулярного наслаивания (МН). Определены значения диэлектрических параметров для слоев Al2O3 двух толщин. Обнаружено, что диэлектрическая релаксация в исследуемых структурах определяется вкладом дипольной и межфазной поляризаций. Температурно-частотная зависимость удельной проводимости указывает на существование прыжкового механизма переноса заряда с энергией активации ΔЕ = (0,15-0,30 ± 0,01) эВ.

Бесплатно

Исследование режимов магнетронного напыления тонких пленок титана для криогенных детекторов

Исследование режимов магнетронного напыления тонких пленок титана для криогенных детекторов

Ляхов Игорь Геннадиевич, Кузьмин Артем Александрович, Ильин Алексей Сергеевич, Ермакова Марина Александровна, Булах Константин Викторович

Статья научная

Проведено исследование тонких пленок титана, получаемых при различных режимах магнетронного напыления на кремниевой подложке с помощью электрических измерений при Т = 300 K и 77 K, исследований на атомно-силовом микроскопе (АСМ) и рентгеновской дифрактометрии (XRD). Показано, как зависит остаточное удельное сопротивление пленок (и критическая температура сверхпроводящего перехода Тс) от параметров напыления. Данные сопоставлены с измерениями на АСМ и XRD.

Бесплатно

Исследование эрозии катода в отрицательном коронном разряде

Исследование эрозии катода в отрицательном коронном разряде

Петров Алексей Алексеевич, Амиров Равиль Хабибулович, Коростылев Евгений Владимирович, Самойлов Игорь Сергеевич

Статья научная

Исследуется отрицательный коронный разряд в режиме импульсов Тричела и в безымпульсном режиме в электродной конфигурации острие-плоскость. Использовались катоды, изготовленные из меди, графита, вольфрама, алюминия и серебра. Обнаружено три режима импульсов Тричела: устойчивый, неустойчивый и стохастический. Эрозия катода наблюдалась в виде формирования элементарных кратеров диаметром 40-100 нм. Формирование элементарных кратеров объясняется электровзрывными процессами на катодной поверхности. В случае катодов из меди и серебра обнаружено частичное осаждение продуктов эрозии на катодной поверхности в виде нанокристаллических структур.

Бесплатно

Калибровка просвечивающего электронного микроскопа с использованием срезов рельефных структур

Калибровка просвечивающего электронного микроскопа с использованием срезов рельефных структур

Васильев Александр Леонидович, Гавриленко Валерий Петрович, Ковальчук Михаил Валентинович, Митюхляев Виталий Борисович, Озерин Юрий Васильевич, Раков Александр Васильевич, Роддатис Владимир Владимирович, Тодуа Павел Андреевич, Филиппов Михаил Николаевич

Статья научная

Предложен новый тест-объект для калибровки просвечивающего электронного микроскопа и растрового просвечивающего микроскопа. Тест-объект изготовлен путем ионного резания кремниевой рельефной структуры с аттестованными размерами элементов рельефа, что позволило его использовать как в диапазоне больших увеличений (при прямом наблюдении кристаллической решетки), так и в диапазоне средних (вблизи 30 000-х) увеличений.

Бесплатно

Метод локализованного синтеза высокоориентированных углеродных нанотрубок для применения в вакуумной микроэлектронике

Метод локализованного синтеза высокоориентированных углеродных нанотрубок для применения в вакуумной микроэлектронике

Батурин Андрей Сергеевич, Кузин Артур Азатович, Лейченко Александр Сергеевич, Негров Дмитрий Владимирович, Стариков Павел Александрович

Статья научная

Рассматривается задача локализованного синтеза высокоориентированных углеродных нанотрубок на подложке методом химического газофазного осаждения, усиленного плазмой. Исследуется зависимость характеристик полученных массивов от параметров роста, локальные автоэмиссионные характеристики методом локального зондирования и характеристики полученных массивов в микродиоде.

Бесплатно

Метод нахождения приближенного решения задачи многочастотной акустооптической дифракции

Метод нахождения приближенного решения задачи многочастотной акустооптической дифракции

Захарченко Сергей Владимирович, Батурин Андрей Сергеевич

Статья научная

Многочастотная дифракция хорошо описывается при помощи системы связанных уравнений, однако выражение решения такой системы в явном виде связана с рядом осложнений. В данной работе рассматривается подход к описанию многочастотной дифракции, позволяющий получить решение в общем виде, которое в дальнейшем может использоваться для решения обратной задачи - получения фурье-образа акустического сигнала, необходимого для требуемого распределения интенсивностей в дифракционном поле.

Бесплатно

Расчет поправки на поглощение в рентгеноспектральном микроанализе

Расчет поправки на поглощение в рентгеноспектральном микроанализе

Михеев Николай Николаевич, Степович Михаил Адольфович, Тодуа Павел Андреевич, Филиппов Михаил Николаевич, Широкова Екатерина Васильевна

Статья научная

Предложен способ расчета поправки на поглощение рентгеновского излучения с помощью новой функции распределения генерируемого электронным пучком характеристического рентгеновского излучения по глубине.

Бесплатно

Реактивное ионное травление поверхности синтетического алмаза

Реактивное ионное травление поверхности синтетического алмаза

Голованов Антон Владимирович, Бормашов Виталий Сергеевич, Волков Александр Павлович, Тарелкин Сергей Александрович, Буга Сергей Геннадьевич, Бланк Владимир Давыдович

Статья научная

Осуществлено реактивное ионное травление синтетической поликристаллической алмазной плёнки и синтетических монокристаллов алмаза в плазмах на основе Ar, O2, их смесей и SF6. В плазмах на основе смеси Ar/O2 и на основе SF6 достигнуты соответственно скорости травления 6 нм/мин и 70 нм/мин и селективности к алюминию 10 и 4. Травление в плазме на основе Ar/O2 привело к выравниванию поверхности как поликристаллической алмазной плёнки, так и монокристаллического алмаза. Травление плазмой на основе SF6 привела к увеличению шероховатости поверхности монокристалла алмаза и перепылению алюминиевой маски.

Бесплатно

Экспериментальные исследования метода дефокусировки электронного пучка при измерениях геометрических параметров наноразмерных объектов в низковольтном режиме растрового электронного микроскопа

Экспериментальные исследования метода дефокусировки электронного пучка при измерениях геометрических параметров наноразмерных объектов в низковольтном режиме растрового электронного микроскопа

Бодунов Дмитрий Сергеевич, Данилова Мария Александровна, Кальнов Владимир Александрович, Кузин Александр Юрьевич, Митюхляев Виталий Борисович, Орликовский Александр Александрович, Раков Александр Васильевич, Тодуа Павел Андреевич, Филиппов Михаил Николаевич

Статья научная

Выполнены измерения линейных размеров элемента нанорельефа с трапецеидальным профилем в растровом электронном микроскопе (РЭМ), работающем при ускоряющем напряжении 800 В, методом дефокусировки электронного пучка. Показано, что видеосигнал во вторичных электронах может быть представлен как кусочно-линейная функция с характерными точками излома. Установлено, что расстояния между экстремумами и точками начала возрастания сигнала линейно зависят от эффективного диаметра def, электронного пучка РЭМ. Экстраполяция этих прямых к def = 0 позволяет определить значения размеров верхнего и нижнего оснований упомянутого выше элемента нанорельефа и среднее значение проекции боковой стенки элемента.

Бесплатно

Журнал