Методика построения диагностики состояния оптико-электронных систем

Автор: Мерзляков Максим Александрович, Махов Владимир Евгеньевич, Авсюкевич Дмитрий Алексеевич

Журнал: Вестник Российского нового университета. Серия: Сложные системы: модели, анализ и управление @vestnik-rosnou-complex-systems-models-analysis-management

Рубрика: Управление сложными системами

Статья в выпуске: 3, 2018 года.

Бесплатный доступ

Рассмотрены вопросы диагностики технического состояния оптико-электронной системы (ОЭС). Разработана методика определения основных параметров состояния ОЭС на базе применения различных измерительных алгоритмов анализа получаемого ее оптического изображения. На базе алгоритмов анализа кривых коэффициентов непрерывного вейвлет-преобразования распределения освещенности в линиях профилях контраста изображения показаны новые возможности диагностики состояния ОЭС, такие как расфокусировка и несоосность угла визирования оптической оси системы на наблюдаемый объект.

Оптико-электронная система (оэс), расфокусировка, дисторсия, непрерывное вейвлет-преобразование (нвп)

Короткий адрес: https://readera.org/148309502

IDR: 148309502   |   DOI: 10.25586/RNU.V9187.18.09.P.65

Список литературы Методика построения диагностики состояния оптико-электронных систем

  • Махов Е.М. Прикладная оптика: учеб. пособие / Е.М. Махов, А.И. Потапов, В.Е. Махов. - СПб.: СЗТУ, 2004. - 348 с.
  • Махов В.Е. Использование алгоритма непрерывного вейвлет-преобразования в системах технического зрения / В.Е. Махов, А.И. Потапов // Изв-я высш. учеб. заведений. Приборостроение. - 2011. - Т. 54. - № 9. - С. 10-15.
  • Махов В.Е. Использование алгоритмов вейвлет-анализа для построения оптических измерительных систем / В.Е. Махов, А.И. Потапов // Контроль. Диагностика. - 2013. - № 1 (175). - С. 12-21.
  • Махов В.Е. Использование вейвлет-анализа для диагностики системы технического зрения / В.Е. Махов, А.И. Потапов // Контроль. Диагностика. - 2011. - № 9. - С. 11-18.
  • Гонсалес Р. Цифровая обработка изображений / Р. Гонсалес, Р. Вудс. - М.: Техносфера, 2005. - 1007 с.
Статья научная