Компьютерная микроскопия при изучении предмета микроэлектроники
Автор: Галеева Луиза Хамитовна, Сайфуллина Дана Вахитовна
Журнал: Образовательные технологии и общество @journal-ifets
Статья в выпуске: 1 т.18, 2015 года.
Бесплатный доступ
Статья посвящена вопросам использования метода анализа изображений в учебном процессе при изучении предмета микроэлектроники. Процесс обучения студентов технических ВУЗов невозможен без демонстрации микроизображений образцов, сопровождающейся необходимыми пояснениями преподавателя. Просмотр микрообъектов полезно дополнить лекционным и практическим курсом применения методов компьютерного анализа изображений.
Микроэлектроника, компьютерный анализ изображений, обучение
Короткий адрес: https://sciup.org/14062590
IDR: 14062590
Статья научная
