Исследование оптических свойств тонких пленок полидифениленфталида

Бесплатный доступ

Исследование и контроль параметров полупроводниковых приборов являются неотъемлемой частью любой полупроводниковой технологии. В экспериментальной физике исследование параметров полупроводниковых образцов позволяет на практике обнаруживать многочисленные физические явления.

Тонкие пленки, спектроскопия, оптика, спектры, полидифенилфтолид

Короткий адрес: https://readera.org/142224110

IDR: 142224110

Статья научная