Использование понятий однородности при проведении дополнительных испытаний электронной компонентной базы космического применения

Автор: С.М. Голованов, В.И. Орлов, В.В. Федосов

Журнал: Космические аппараты и технологии.

Рубрика: Космическое приборостроение

Статья в выпуске: 4, 2020 года.

Бесплатный доступ

В современных условиях в Российской Федерации комплектация космических аппаратов высоконадежной электронной компонентной базой возможна только через испытательные технические центры, которые выступают в качестве связующего звена между заводами-изготовителями электронных компонентов и их потребителями. Учитывая отсутствие в нашей стране специализированного производства электронных компонентов категории качества «Space», такой подход является единственным альтернативным путем. Испытательные технические центры осуществляют формирование партий электронной компонентной базы космического применения посредством проведения дополнительных испытаний электронных компонентов общего военного применения, позволяющих осуществить отбраковку содержащих дефекты элементов, которые могут проявить себя при длительном функционировании в космическом пространстве. Современный космический аппарат содержит порядка 100–200 тысяч электронных компонентов. С учетом того, что бортовая аппаратура космического аппарата при его эксплуатации не подлежит ремонту, очевидно, что к электронной компонентной базе космического применения предъявляются исключительно высокие требования по надежности. В связи с этим совершенствование методологии повышения надежности электронной компонентной базы космического применения имеет первостепенное значение для дальнейшего развития космической отрасли. В настоящей статье изложен подход к усовершенствованию технологии дополнительных испытаний в испытательных технических центрах, основанный на применении понятий однородности испытываемой партии электронных компонентов, что позволяет осмысленно осуществлять формирование выборок для разрушающего физического анализа и испытаний на радиационную стойкость, а также дополнительно выявлять элементы-выбросы, являющиеся потенциально-ненадежными элементами.

Еще

Электронная компонентная база, космическое применение, испытательный технический центр, однородность партии элементов

Короткий адрес: https://readera.org/14117459

IDR: 14117459   |   DOI: 10.26732/j.st.2020.4.03

Список литературы Использование понятий однородности при проведении дополнительных испытаний электронной компонентной базы космического применения

  • Орлов В. И., Федосов В. В. Качество электронной компонентной базы – залог длительной работоспособности космических аппаратов // Материалы XVII Междунар. науч. конф. «Решетневские чтения». 2013. Т. 1. С. 238–241.
  • Субботин В., Стешенко В. Проблемы обеспечения бортовой космической аппаратуры космических аппаратов электронной компонентной базой // Компоненты и технологии. 2011. Вып. 11. С. 10–12.
  • Федосов В. В. Комплексный подход к электронной компонентной базе как метод обеспечения длительной работоспособности космических аппаратов // Вестник СибГАУ. 2014. № 5. С. 155–160.
  • Данилин Н. С. Информационные технологии и сертификация элементной базы новых российских космических телекоммуникаций : учеб.-метод. пособие. М. : РИО РТА, 2000. 76 с.
  • Горлов М., Ануфриев Л., Строгонов А. Отбраковочные технологические испытания как средство повышения надежности партий ИС [Электронный ресурс]. URL: http://www.chipnews.ru/html.cgi/arhiv/01_05/stat-5.htm (дата обращения: 30.04.2019).
  • Федосов В. В, Патраев В. Е. Повышение надежности радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов при применении электрорадиоизделий, прошедших дополнительные отбраковочные испытания в специализированных испытательных технических центрах // Авиакосмическое приборостроение. 2006. № 10. С. 50–55.
  • Программа дополнительных испытаний электрорадиоизделий в испытательных технических центрах для обеспечения комплектации бортовой аппаратуры КА по заказам Генерального заказчика. Железногорск, 2008.
  • Казаковцев Л. А., Орлов В. И., Ступина А. А., Масич И. С. Задача классификации электронной компонентной базы // Вестник СибГАУ. 2014. № 4 (56). С. 55–61.
  • Golovanov S. M., Orlov V. I., Kazakovtsev L. A., Popov A. M. Recursive clustering algorithm based on silhouette criterion maximization for sorting semiconductor devices by homogeneous batches // Material Science and Aerospace Technology. 2019. vol. 537. doi: 10.1088/1757-899X/537/2/022035.
  • Орлов В. И., Федосов В. В., Голованов С. М. Применение итеративного алгоритма максимизации критерия силуэта для формирования однородных групп электронной компонентной базы // Материалы XXIII Междунар. науч.-практ. конф. «Решетневские чтения». 2019. Т. 1. С. 366–368.
Еще
Статья